Impact of down scaling on high frequency ...

Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Impact of down scaling on high frequency noise performance of bulk and SOI MOSFETs
Auteur(s) :
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Raynaud, C. [Auteur]
Vanmackelberg, M. [Auteur]
Danneville, François [Auteur] refId
Pailloncy, G. [Auteur]
lepilliet, sl [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]
Titre de la manifestation scientifique :
SPIE Fluctuations and Noise Symposium, Noise in Devices and Circuits
Ville :
Sante Fe, NM
Pays :
Etats-Unis d'Amérique
Date de début de la manifestation scientifique :
2003
Date de publication :
2003
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL