High frequency noise in FD SOI MOSFETs : ...

Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
High frequency noise in FD SOI MOSFETs : a Monte Carlo investigation
Author(s) :
Rengel, R. [Auteur]
Mateos, J. [Auteur]
Pardo, D. [Auteur]
Gonzales, T. [Auteur]
Martin, M.J. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Danneville, Francois [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]
Start date of the conference :
2003
Book title :
Proceedings of the SPIE - International Society for Optical Engineering, 5113
Publisher :
SPIE – The International Society for Optical Engineering, Bellingham, WA, USA
Publication date :
2003
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL