Hysteretic behavior of the charge injection ...

Document type :
Article dans une revue scientifique
Title :
Hysteretic behavior of the charge injection in single silicon nanoparticles
Author(s) :
Diesinger, H. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Melin, Thierry [Auteur]
Deresmes, D. [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]
Baron, T. [Auteur]
Journal title :
Applied Physics Letters
Pages :
3546-3548
Publisher :
American Institute of Physics
Publication date :
2004
ISSN :
0003-6951
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL