Titre :

Electric force microscopy of individually charged semiconductor nanoparticles on conductive substrates : an analytical model for quantitative charge imaging

Auteur(s) :

Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Diesinger, Heinrich [Auteur]
Deresmes, D. [Auteur]
Stievenard, D. [Auteur]

Titre de la revue :

Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015)

Pagination :

035321/1-8

Éditeur :

American Physical Society

Date de publication :

2004

ISSN :

1098-0121

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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