Titre :

Predictive modelling of the fatigue phenomenon for polycristalline structural layers

Auteur(s) :

Millet, O. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bertrand, Pierre [Auteur]
Legrand, Bernard [Auteur]
Collard, D. [Auteur]
Buchaillot, Lionel [Auteur]

Date de début de la manifestation scientifique :

2004

Titre de l’ouvrage :

Proceedings of the 17th IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems, MEMS 2004

Éditeur :

IEEE, Piscataway, NJ, USA

Date de publication :

2004

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL