Titre :

Evaluation of residual stress profiles using the Barkhausen noise effect to verify high performance aerospace bearings

Auteur(s) :

Devaux, S. [Auteur]
Duquennoy, Marc [Auteur]
Gualandrii, J. [Auteur]
Ouaftouch, Mohammadi [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ourak, Mohamed [Auteur]

Titre de la revue :

NDT & E International

Pagination :

9-24

Éditeur :

Elsevier

Date de publication :

2005

ISSN :

0963-8695

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL