Title :

Combined annealing temperature and thickness effects on properties of PbZr0.53Ti0.47O3 films on LaNiO3/Si substrate by sol-gel process

Author(s) :

Wang, Gang [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Soyer, Caroline [Auteur]

Journal title :

JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH

Pages :

370-375

Publisher :

Elsevier

Publication date :

2006

ISSN :

0022-0248

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL