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Combined annealing temperature and thickness ...
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Document type :
Article dans une revue scientifique
Title :
Combined annealing temperature and thickness effects on properties of PbZr0.53Ti0.47O3 films on LaNiO3/Si substrate by sol-gel process
Author(s) :
Wang, Gang [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Soyer, Caroline [Auteur]
Journal title :
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH
Pages :
370-375
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2006
ISSN :
0022-0248
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
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