Titre :

Combined annealing temperature and thickness effects on properties of PbZr0.53Ti0.47O3 films on LaNiO3/Si substrate by sol-gel process

Auteur(s) :

Wang, Gang [Auteur]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Soyer, Caroline [Auteur]

Titre de la revue :

JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH

Pagination :

370-375

Éditeur :

Elsevier

Date de publication :

2006

ISSN :

0022-0248

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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