Noise and large-signal characterization ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Noise and large-signal characterization of a thin-film MHEMT feedback amplifier in multilayer MCM-D technology
Auteur(s) :
Vandersmissen, R. [Auteur]
Schreurs, D. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Carchon, G. [Auteur]
Borghs, G. [Auteur]
Schreurs, D. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Carchon, G. [Auteur]
Borghs, G. [Auteur]
Date de début de la manifestation scientifique :
2004
Titre de l’ouvrage :
Proceedings of the 2004 International Conference on Compound Semiconductor Manufacturing Technology, GaAs MANTecH 2004
Éditeur :
GaAs Mantech, St Louis, MO, USA
Date de publication :
2004
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :