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Noise modeling and performance of SOI MOSFETs
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Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Noise modeling and performance of SOI MOSFETs
Author(s) :
Danneville, Francois [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pailloncy, G. [Auteur]
Iniguez, B. [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Conference title :
IEEE MTT-S International Microwave Symposium, Workshop on High Frequency Noise in Advanced Silicon-based Devices : From Basics to State-of-the-Art Device and Circuit Performances
City :
Fort Worth, TX
Country :
Etats-Unis d'Amérique
Start date of the conference :
2004
Publication date :
2004
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
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