Title :

Noise modeling and performance of SOI MOSFETs

Author(s) :

Danneville, Francois [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pailloncy, G. [Auteur]
Iniguez, B. [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]

Conference title :

IEEE MTT-S International Microwave Symposium, Workshop on High Frequency Noise in Advanced Silicon-based Devices : From Basics to State-of-the-Art Device and Circuit Performances

City :

Fort Worth, TX

Country :

Etats-Unis d'Amérique

Start date of the conference :

2004

Publication date :

2004

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL