Bruit haute fréquence dans les transistors ...

Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Bruit haute fréquence dans les transistors MOS sur SOI : méthodes de caractérisations et de modélisations
Auteur(s) :
Pailloncy, G. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
WORKSHOP Laboratoire Commun IEMN/ST Microelectronics
Ville :
Crolles
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2004
Date de publication :
2004
Langue :
Français
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL