A non uniform thermal de-embedding approach ...

Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
A non uniform thermal de-embedding approach for cryogenic on-wafer high frequency noise measurements
Auteur(s) :
Delcourt, S. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
BOURZGUI, Nour-Eddine [Auteur] refId
lepilliet, sl [Auteur]
Laporte, C. [Auteur]
Fraysse, J.P. [Auteur]
Maignan, M. [Auteur]
Date de début de la manifestation scientifique :
2004
Titre de l’ouvrage :
2004 IEEE International Microwave Symposium Digest, MTT-S 2004
Éditeur :
IEEE, Piscataway, NJ, USA
Date de publication :
2004
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL