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A non uniform thermal de-embedding approach ...
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Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
A non uniform thermal de-embedding approach for cryogenic on-wafer high frequency noise measurements
Author(s) :
Delcourt, S. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bourzgui, Nour Eddine [Auteur]
Lepilliet, Sylvie [Auteur]
Laporte, C. [Auteur]
Fraysse, J.P. [Auteur]
Maignan, M. [Auteur]
Start date of the conference :
2004
Book title :
2004 IEEE International Microwave Symposium Digest, MTT-S 2004
Publisher :
IEEE, Piscataway, NJ, USA
Publication date :
2004
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
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