Title :

Nonlinear effects in T-branch junctions

Author(s) :

Mateos, J. [Auteur]
Vasallo, B.G. [Auteur]
Pardo, D. [Auteur]
Gonzales, T. [Auteur]
Pichonat, E. [Auteur]
Galloo, J.S. [Auteur]
Bollaert, S. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Roelens, Yannick [Auteur]
Cappy, A. [Auteur]

Journal title :

IEEE Electron Device Letters

Pages :

235-237

Publisher :

Institute of Electrical and Electronics Engineers

Publication date :

2004

ISSN :

0741-3106

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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