Nonlinear effects in T-branch junctions
Document type :
Article dans une revue scientifique
Title :
Nonlinear effects in T-branch junctions
Author(s) :
Mateos, J. [Auteur]
Vasallo, B.G. [Auteur]
Pardo, D. [Auteur]
Gonzales, T. [Auteur]
Pichonat, E. [Auteur]
Galloo, J.S. [Auteur]
Bollaert, S. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Roelens, Yannick [Auteur]
Cappy, A. [Auteur]
Vasallo, B.G. [Auteur]
Pardo, D. [Auteur]
Gonzales, T. [Auteur]
Pichonat, E. [Auteur]
Galloo, J.S. [Auteur]
Bollaert, S. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Roelens, Yannick [Auteur]
Cappy, A. [Auteur]
Journal title :
IEEE Electron Device Letters
Pages :
235-237
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Publication date :
2004
ISSN :
0741-3106
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :