Impact of downscaling on high-frequency ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Impact of downscaling on high-frequency noise performance of bulk and SOI MOSFETs
Author(s) :
Pailloncy, G. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Raynaud, C. [Auteur]
Vanmackelberg, M. [Auteur]
Danneville, François [Auteur]
lepilliet, sl [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Raynaud, C. [Auteur]
Vanmackelberg, M. [Auteur]
Danneville, François [Auteur]

lepilliet, sl [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]

Journal title :
IEEE Transactions on Electron Devices
Pages :
1605-1612
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Publication date :
2004
ISSN :
0018-9383
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :