Impact of downscaling on high-frequency ...

Document type :
Article dans une revue scientifique
Title :
Impact of downscaling on high-frequency noise performance of bulk and SOI MOSFETs
Author(s) :
Pailloncy, G. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Raynaud, C. [Auteur]
Vanmackelberg, M. [Auteur]
Danneville, Francois [Auteur]
Lepilliet, Sylvie [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur] refId
Journal title :
IEEE Transactions on Electron Devices
Pages :
1605-1612
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Publication date :
2004
ISSN :
0018-9383
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
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