Title :

Numerical and experimental analysis of second order effects and loss mechanisms in axisymmetrical cavities

Author(s) :

Campos-Pozuelo, C. [Auteur]
Elvira-Segura, L. [Auteur]
Dubus, Bertrand [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Journal title :

Journal of the Acoustical Society of America

Pages :

1973-1981

Publisher :

Acoustical Society of America

Publication date :

2004

ISSN :

0001-4966

Language :

Anglais

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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