Study of structural and optical properties ...

Document type :
Article dans une revue scientifique
Title :
Study of structural and optical properties of InSb-doped SiO2 thin films
Author(s) :
CAPOEN, Bruno [Auteur] refId
Lam, V.Q. [Auteur]
Turrell, S. [Auteur]
Vilcot, Jean-Pierre [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Beclin, F. [Auteur]
Jestin, Y. [Auteur]
Bouazaoui, M. [Auteur]
Journal title :
Journal of Non-Crystalline Solids
Pages :
1819-1824
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2005
ISSN :
0022-3093
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL