Study of structural and optical properties ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Study of structural and optical properties of InSb-doped SiO2 thin films
Auteur(s) :
CAPOEN, Bruno [Auteur]
Lam, V.Q. [Auteur]
Turrell, S. [Auteur]
Vilcot, Jean-Pierre [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Beclin, F. [Auteur]
Jestin, Y. [Auteur]
Bouazaoui, M. [Auteur]
Lam, V.Q. [Auteur]
Turrell, S. [Auteur]
Vilcot, Jean-Pierre [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Beclin, F. [Auteur]
Jestin, Y. [Auteur]
Bouazaoui, M. [Auteur]
Titre de la revue :
Journal of Non-Crystalline Solids
Pagination :
1819-1824
Éditeur :
Elsevier
Date de publication :
2005
ISSN :
0022-3093
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :