Charge-injection mechanisms in semiconductor ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Charge-injection mechanisms in semiconductor nanoparticles analyzed from force microscopy experiments
Auteur(s) :
Barbet, Sophie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Diesinger, Heinrich [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deresmes, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Stiévenard, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Diesinger, Heinrich [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deresmes, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Stiévenard, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015)
Pagination :
045318
Éditeur :
American Physical Society
Date de publication :
2006-01-15
ISSN :
1098-0121
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Résumé en anglais : [en]
Charge-injection and electric force microscopy experiments are performed in silicon nanoparticles deposited on a doped silicon substrate. We address in this paper the issue of the nanoparticle charging mechanisms. The ...
Lire la suite >Charge-injection and electric force microscopy experiments are performed in silicon nanoparticles deposited on a doped silicon substrate. We address in this paper the issue of the nanoparticle charging mechanisms. The nanoparticle charging is shown to occur in a regime of permanent current flow between the tip and substrate, during which the injected charge gets confined in the form of a two-dimensional electron gas at the nanoparticle-substrate interface. The equilibrium nanoparticle charge is calculated in a variational SchrödingerPoisson model in the effective mass approximation. The linearity of charge-voltage characteristics is discussed.Lire moins >
Lire la suite >Charge-injection and electric force microscopy experiments are performed in silicon nanoparticles deposited on a doped silicon substrate. We address in this paper the issue of the nanoparticle charging mechanisms. The nanoparticle charging is shown to occur in a regime of permanent current flow between the tip and substrate, during which the injected charge gets confined in the form of a two-dimensional electron gas at the nanoparticle-substrate interface. The equilibrium nanoparticle charge is calculated in a variational SchrödingerPoisson model in the effective mass approximation. The linearity of charge-voltage characteristics is discussed.Lire moins >
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
- https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00127820/document
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