Thickness dependent morphology and resistivity ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Thickness dependent morphology and resistivity of ultra-thin Al films growth on Si(111) by molecular beam epitaxy
Author(s) :
Aswal, D.K. [Auteur]
Joshi, N. [Auteur]
Debnath, A.K. [Auteur]
Gupta, D.S. [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Yakhmi, J.V. [Auteur]
Joshi, N. [Auteur]
Debnath, A.K. [Auteur]
Gupta, D.S. [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Yakhmi, J.V. [Auteur]
Journal title :
Physica Status Solidi A (applications and materials science)
Pages :
1254-1258
Publisher :
Wiley
Publication date :
2006
ISSN :
1862-6300
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :