Title :

Role of interfaces on the direct tunneling and inelastic tunneling behaviors through metal/alkylsilane/silicon junctions

Author(s) :

Aswal, D. K. [Auteur]
Petit, C. [Auteur]
Salace, G. [Auteur]
Guérin, David [Auteur]
Lenfant, S. [Auteur]
Yakhmi, J.V. [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Journal title :

physica status solidi (a)

Pages :

1464-1469

Publisher :

Wiley

Publication date :

2006

ISSN :

0031-8965

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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