Physical study of the avalanche breakdown ...

Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Physical study of the avalanche breakdown phenomenon in HEMTs
Auteur(s) :
Elkhou, M. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Rousseau, Michel [Auteur]
Gerard, H. [Auteur]
De Jaeger, Jean-Claude [Auteur] refId
Titre de la revue :
Solid-State Electronics
Pagination :
535-544
Éditeur :
Elsevier
Date de publication :
2005
ISSN :
0038-1101
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL