Title :

Propriétés hyperfréquences et de bruit de MOSFETs sur substrat massif et SOI jusqu'au nœud technologique 65 nm

Author(s) :

Pailloncy, G. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Publication date :

2005

Language :

Français

Audience :

Non spécifiée

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL