Titre :

Fowler-Nordheim tunnelling and electrically stressed breakdown of 3-mercaptopropyltrimethoxysilane self-assembled monolayers

Auteur(s) :

Aswal, D. K. [Auteur]
Lenfant, Stephane [Auteur]
Guérin, David [Auteur]
Yakhmi, J. V. [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la revue :

Nanotechnology

Pagination :

3064-3068

Éditeur :

Institute of Physics

Date de publication :

2005

ISSN :

0957-4484

Langue :

Anglais

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL