Truly quantitative XPS characterization ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Truly quantitative XPS characterization of organic monolayers on silicon : study of alkyl and alkoxy monolayers on H-Si(111)
Auteur(s) :
Wallart, Xavier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Henry de Villeneuve, C. [Auteur]
Allongue, P. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Henry de Villeneuve, C. [Auteur]
Allongue, P. [Auteur]
Titre de la revue :
JOURNAL OF THE AMERICAN CHEMICAL SOCIETY
Pagination :
7871
Éditeur :
American Chemical Society
Date de publication :
2005
ISSN :
0002-7863
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :