A 60 GHz six-port based reflectometer for ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
A 60 GHz six-port based reflectometer for nondestructive characterization of materials
Author(s) :
Maazi, M. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Glay, David [Auteur]
Lasri, Tuami [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Glay, David [Auteur]

Lasri, Tuami [Auteur]

Journal title :
EuMA - Journal of the European Microwave Association
Pages :
149-155
Publication date :
2005
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :