A 60 GHz six-port based reflectometer for ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
A 60 GHz six-port based reflectometer for nondestructive characterization of materials
Auteur(s) :
Maazi, M. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Glay, David [Auteur]
Lasri, Tuami [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Glay, David [Auteur]
Lasri, Tuami [Auteur]
Titre de la revue :
EuMA - Journal of the European Microwave Association
Pagination :
149-155
Date de publication :
2005
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :