A 60 GHz six-port based reflectometer for ...

Document type :
Article dans une revue scientifique
Title :
A 60 GHz six-port based reflectometer for nondestructive characterization of materials
Author(s) :
Maazi, M. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Glay, D. [Auteur]
Lasri, T. [Auteur]
Journal title :
EuMA - Journal of the European Microwave Association
Pages :
149-155
Publication date :
2005
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL