Strain, size, and composition of InAs ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Strain, size, and composition of InAs quantum sticks embedded in InP determined via grazing incidence X-ray anomalous diffraction
Auteur(s) :
Létoublon, Antoine [Auteur]
Service de Physique des Matériaux et Microstructures [SP2M - UMR 9002]
Favre-Nicolin, Vincent [Auteur]
Service de Physique des Matériaux et Microstructures [SP2M - UMR 9002]
Renevier, Hubert [Auteur]
Service de Physique des Matériaux et Microstructures [SP2M - UMR 9002]
M.G., Proietti [Auteur]
Instituto de Ciencia de Materiales de Aragón [Saragoza, España] [ICMA-CSIC]
Monat, C. [Auteur]
Laboratoire d'électronique, optoélectronique et microsystèmes [LEOM]
Gendry, M. [Auteur]
Laboratoire d'électronique, optoélectronique et microsystèmes [LEOM]
Marty, Olivier [Auteur]
Laboratoire d'Electronique, Nanotechnologies, Capteurs [LENAC]
Priester, Catherine [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Service de Physique des Matériaux et Microstructures [SP2M - UMR 9002]
Favre-Nicolin, Vincent [Auteur]
Service de Physique des Matériaux et Microstructures [SP2M - UMR 9002]
Renevier, Hubert [Auteur]
Service de Physique des Matériaux et Microstructures [SP2M - UMR 9002]
M.G., Proietti [Auteur]
Instituto de Ciencia de Materiales de Aragón [Saragoza, España] [ICMA-CSIC]
Monat, C. [Auteur]
Laboratoire d'électronique, optoélectronique et microsystèmes [LEOM]
Gendry, M. [Auteur]
Laboratoire d'électronique, optoélectronique et microsystèmes [LEOM]
Marty, Olivier [Auteur]
Laboratoire d'Electronique, Nanotechnologies, Capteurs [LENAC]
Priester, Catherine [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Physical Review Letters
Pagination :
186101
Éditeur :
American Physical Society
Date de publication :
2004-05-07
ISSN :
0031-9007
Mot(s)-clé(s) en anglais :
InAs nanostructure anomalous diffraction synchrotron strain MBE growth
Discipline(s) HAL :
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Résumé en anglais : [en]
We have used x-ray anomalous diffraction to recover the model-independent Fourier transform (x-ray structure factor) of InAs quantum sticklike islands embedded in InP. The average height of the quantum sticks, as deduced ...
Lire la suite >We have used x-ray anomalous diffraction to recover the model-independent Fourier transform (x-ray structure factor) of InAs quantum sticklike islands embedded in InP. The average height of the quantum sticks, as deduced from the width of the structure factor profile, is 2.54 nm. The InAs out-of-plane deformation, relative to InP, is 6.1%. Diffraction anomalous fine structure provides evidence of pure InAs quantum sticks. Finite difference method calculations reproduce well the diffraction data, and give the strain along the growth direction. The chemical mixing at interfaces is also analyzed.Lire moins >
Lire la suite >We have used x-ray anomalous diffraction to recover the model-independent Fourier transform (x-ray structure factor) of InAs quantum sticklike islands embedded in InP. The average height of the quantum sticks, as deduced from the width of the structure factor profile, is 2.54 nm. The InAs out-of-plane deformation, relative to InP, is 6.1%. Diffraction anomalous fine structure provides evidence of pure InAs quantum sticks. Finite difference method calculations reproduce well the diffraction data, and give the strain along the growth direction. The chemical mixing at interfaces is also analyzed.Lire moins >
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Commentaire :
4pages
Source :
Fichiers
- http://arxiv.org/pdf/cond-mat/0309522
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- https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00085995/document
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