Titre :

Caractérisation électro-optique de composants térahertz par échantillonnage Franz-Keldysh subpicoseconde.

Auteur(s) :

Desplanque, Ludovic [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Date de publication :

2003

Langue :

Basque

Audience :

Non spécifiée

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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