Titre :

Dispositif de caractérisation de sources millimétriques dans la fenêtre des 94 GHz. Mesures de bruit de MA et de MF près de la fréquence porteuse

Auteur(s) :

Friscourt, M.R. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Rolland, P.A. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lacombe, J. [Auteur]
Heitzmann, M. [Auteur]

Titre de la manifestation scientifique :

Journées Nationales Microondes

Ville :

Toulouse

Pays :

France

Date de début de la manifestation scientifique :

1982

Date de publication :

1982

Langue :

Français

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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