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Optical characterization of polychromatic ...
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Document type :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1063/1.1835538
Title :
Optical characterization of polychromatic organic light emitting diodes
Author(s) :
Troadec, david [Auteur]
Centrale de Micro Nano Fabrication - IEMN [CMNF - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Moliton, André [Auteur]
Unité de Microélectronique, Optoélectronique et Polymères [UMOP]
Ratier, Bernard [Auteur]
Unité de Microélectronique, Optoélectronique et Polymères [UMOP]
Antony, Rémi [Auteur]
Unité de Microélectronique, Optoélectronique et Polymères [UMOP]
Hiorns, Roger C. [Auteur]
Physico-chimie des polymères [PCP]
Journal title :
Journal of Applied Physics
Pages :
043103
Publisher :
American Institute of Physics
Publication date :
2005-02-15
ISSN :
0021-8979
HAL domain(s) :
Chimie/Matériaux
English abstract : [en]
Luminance and quantum yields of organic light emitting diodes (OLEDs) are generally calculated by using a hypothetic monochromatic emission even though the actual external emission is lower than the internal emission because ...
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Luminance and quantum yields of organic light emitting diodes (OLEDs) are generally calculated by using a hypothetic monochromatic emission even though the actual external emission is lower than the internal emission because of internal reflection, and is polychromatic. For organic materials, we present the effects of the total internal reflection on quantum yields. Calculations for the luminance and the efficiency of an ideal pseudomonochromatic source are compared with those for a real polychromatic source. While we demonstrate that the calculation of the yield is practically unchanged whatever hypothesis is used, we do show, however, that by assuming that the source is pseudomonochromatic, the luminances of green and blue OLEDs are overvalued or undervalued by a factor of 4, respectively.Show less >
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
Files
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  • https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00067791/document
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