Analysis of microwave detection with GaN ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Analysis of microwave detection with GaN HEMTs under RF probes
Author(s) :
Sanchez-Martin, Hector [Auteur]
Universidad de Salamanca
Pérez-Martín, Ester [Auteur]
Altuntas, Philippe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hoel, Virginie [Auteur]
Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN [CSAM - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Rennesson, Stéphane [Auteur]
Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications [CRHEA]
Cordier, Yvon [Auteur]
Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications [CRHEA]
Novoa, J.A. [Auteur]
Pérez, Susana [Auteur]
González, Tomás [Auteur]
Departamento de Fisica Aplicada [Salamanca]
Mateos, Javier [Auteur]
Departamento de Fisica Aplicada [Salamanca]
Íñiguez-De-La-Torre, Ignacio [Auteur]
Universidad de Salamanca
Universidad de Salamanca
Pérez-Martín, Ester [Auteur]
Altuntas, Philippe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hoel, Virginie [Auteur]

Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN [CSAM - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Rennesson, Stéphane [Auteur]
Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications [CRHEA]
Cordier, Yvon [Auteur]
Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications [CRHEA]
Novoa, J.A. [Auteur]
Pérez, Susana [Auteur]
González, Tomás [Auteur]
Departamento de Fisica Aplicada [Salamanca]
Mateos, Javier [Auteur]
Departamento de Fisica Aplicada [Salamanca]
Íñiguez-De-La-Torre, Ignacio [Auteur]
Universidad de Salamanca
Conference title :
Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2018
City :
Bucharest
Country :
Roumanie
Start date of the conference :
2018-05-14
Publication date :
2018
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Source :