Title :

Analysis of microwave detection with GaN HEMTs under RF probes

Author(s) :

Sanchez-Martin, Hector [Auteur]
Universidad de Salamanca
Pérez-Martín, Ester [Auteur]
Altuntas, Philippe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hoel, Virginie [Auteur]
Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN [CSAM - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Rennesson, Stéphane [Auteur]
Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications [CRHEA]
Cordier, Yvon [Auteur]
Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications [CRHEA]
Novoa, J.A. [Auteur]
Pérez, Susana [Auteur]
González, Tomás [Auteur]
Departamento de Fisica Aplicada [Salamanca]
Mateos, Javier [Auteur]
Departamento de Fisica Aplicada [Salamanca]
Íñiguez-De-La-Torre, Ignacio [Auteur]
Universidad de Salamanca

Conference title :

Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2018

City :

Bucharest

Country :

Roumanie

Start date of the conference :

2018-05-14

Publication date :

2018

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL