NANOSIL Network of Excellence: Silicon-based ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
NANOSIL Network of Excellence: Silicon-based nanostructures and nanodevices for long-term nanoelectronics applications
Author(s) :
Balestra, F. [Auteur]
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation [IMEP-LAHC]
Parker, E. [Auteur]
Leadley, D. [Auteur]
Mantl, S. [Auteur]
Dubois, Emmanuel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Microélectronique Silicium - IEMN [MICROELEC SI - IEMN]
Engstrom, O. [Auteur]
Clerc, R. [Auteur]
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation [IMEP-LAHC]
Cristoloveanu, S. [Auteur]
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation [IMEP-LAHC]
Kurz, H. [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]
Lemme, M. [Auteur]
Ionescu, A. [Auteur]
Kasper, E. [Auteur]
Karmous, A. [Auteur]
Baus, M. [Auteur]
Spangenberg, B. [Auteur]
Ostling, M. [Auteur]
Sangiogi, E. [Auteur]
Ghibaudo, G. [Auteur]
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation [IMEP-LAHC]
Flandre, D. [Auteur]
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation [IMEP-LAHC]
Parker, E. [Auteur]
Leadley, D. [Auteur]
Mantl, S. [Auteur]
Dubois, Emmanuel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Microélectronique Silicium - IEMN [MICROELEC SI - IEMN]
Engstrom, O. [Auteur]
Clerc, R. [Auteur]
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation [IMEP-LAHC]
Cristoloveanu, S. [Auteur]
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation [IMEP-LAHC]
Kurz, H. [Auteur]
Raskin, J.P. [Auteur]
Lemme, M. [Auteur]
Ionescu, A. [Auteur]
Kasper, E. [Auteur]
Karmous, A. [Auteur]
Baus, M. [Auteur]
Spangenberg, B. [Auteur]
Ostling, M. [Auteur]
Sangiogi, E. [Auteur]
Ghibaudo, G. [Auteur]
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation [IMEP-LAHC]
Flandre, D. [Auteur]
Conference title :
European Materials Research Society (E-MRS 2008), Symposium
City :
Strasbourg
Country :
France
Start date of the conference :
2008-05-26
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Source :