Title :

Classification and characterization of impulsive noise on indoor power line used for data communications

Author(s) :

Degardin, Virginie [Auteur]
Télécommunication, Interférences et Compatibilité Electromagnétique - IEMN [TELICE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lienard, Martine [Auteur]
Télécommunication, Interférences et Compatibilité Electromagnétique - IEMN [TELICE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Zeddam, A. [Auteur]
France Télécom Recherche et Développement [Lannion] [FTR&D]
Gauthier, F. [Auteur]
Hôpital Bicêtre [AP-HP, Le Kremlin-Bicêtre]
Degauque, pierre [Auteur]
Télécommunication, Interférences et Compatibilité Electromagnétique - IEMN [TELICE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Journal title :

IEEE Transactions on Consumer Electronics

Pages :

913-918

Publisher :

Institute of Electrical and Electronics Engineers

Publication date :

2002-11

ISSN :

0098-3063

English keyword(s) :

carrier transmission on power lines
impulse noise
electric noise measurement
statistical analysis
data communication

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]

English abstract : [en]

The performance of a link using the indoor power line network as a medium for communication strongly depends on the noise characteristics. Besides the background noise and the narrow band noise mainly due to broadcast ...
Show more >The performance of a link using the indoor power line network as a medium for communication strongly depends on the noise characteristics. Besides the background noise and the narrow band noise mainly due to broadcast transmitters, impulsive noise adversely affects the quality of service. This paper focuses on impulsive noise measurements, their statistical properties being the basis of a noise model for optimizing a transmission scheme.Show less >

Language :

Anglais

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL