Frequency measurement using noise setup ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
Title :
Frequency measurement using noise setup for III-nitrides based photodiode
Author(s) :
Alshehri, Bandar [Auteur]
Dogheche, Karim [Auteur]
Ramdane, Abderrahim [Auteur]
Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies [C2N]
Decoster, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Optoélectronique - IEMN [OPTO - IEMN]
Dogheche, El Hadj [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Optoélectronique - IEMN [OPTO - IEMN]
Dogheche, Karim [Auteur]
Ramdane, Abderrahim [Auteur]
Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies [C2N]
Decoster, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Optoélectronique - IEMN [OPTO - IEMN]
Dogheche, El Hadj [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Optoélectronique - IEMN [OPTO - IEMN]
Conference title :
12th International Conference on Nitride Semiconductors ICNS-12
City :
Strasbourg
Country :
France
Start date of the conference :
2017-07-24
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Acoustique [physics.class-ph]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Optique / photonique
Sciences de l'ingénieur [physics]/Optique / photonique
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Comment :
Symposium B - Optical devicespaper B.01.44
Source :