Title :

Double acousto-optic deflector system for increased scanning range of laser beams

Author(s) :

Kastelik, Jean-Claude [Auteur]
Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis [UVHC]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Optoélectronique - IEMN [OPTO - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Dupont, Samuel [Auteur]
Optoélectronique - IEMN [OPTO - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Yushkov, Konstantin B. [Auteur]
Molchanov, Vladimir [Auteur]
Gazalet, Joseph [Auteur]
Optoélectronique - IEMN [OPTO - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]

Journal title :

Ultrasonics

Pages :

62-65

Publisher :

Elsevier

Publication date :

2017-09

ISSN :

0041-624X

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]/Acoustique [physics.class-ph]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Optique / photonique

English abstract : [en]

A new laser scanning system is presented based on two wide-band acousto-optic deflectors. The interaction medium is tellurium dioxide. Anisotropic interactions take place under two different tangential phase matching ...
Show more >A new laser scanning system is presented based on two wide-band acousto-optic deflectors. The interaction medium is tellurium dioxide. Anisotropic interactions take place under two different tangential phase matching configurations in such a way that the acousto-optic bandwidths add up. We demonstrate the feasibility of such a cascade deflection system for the wavelength of λ = 514 nm. The total frequency bandwidth is Δf = 100 MHz, equally distributed between the two acousto-optic deflectors. The total angular scan at the output is Δθ = 4.4° leading to 125 resolvable spots for a 1 mm truncated Gaussian beam.Show less >

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Comment :

IF = 2.377

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL