Interféromètre six-port intégré en bande ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Interféromètre six-port intégré en bande V pour applications radar et communications
Author(s) :
Loyez, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN [CSAM - IEMN]
Bocquet, Michael [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
COMmunications NUMériques - IEMN [COMNUM - IEMN]
El Moussati, Ali [Auteur]
Haddadi, Kamel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN [CSAM - IEMN]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN [CSAM - IEMN]
Bocquet, Michael [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
COMmunications NUMériques - IEMN [COMNUM - IEMN]
El Moussati, Ali [Auteur]
Haddadi, Kamel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN [CSAM - IEMN]
Conference title :
TELECOM'2019 & 11èmes Journées Franco-Maghrébines des Micro-ondes et leurs Applications
City :
Saïdia
Country :
Maroc
Start date of the conference :
2019-06-12
HAL domain(s) :
Informatique [cs]
Sciences de l'ingénieur [physics]
Informatique [cs]/Intelligence artificielle [cs.AI]
Informatique [cs]/Réseaux et télécommunications [cs.NI]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Traitement du signal et de l'image [eess.SP]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique
Sciences de l'ingénieur [physics]
Informatique [cs]/Intelligence artificielle [cs.AI]
Informatique [cs]/Réseaux et télécommunications [cs.NI]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Traitement du signal et de l'image [eess.SP]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Nationale
Popular science :
Non
Comment :
ISBN 978-9920-37-837-6
Source :