Stochastic modeling of IEEE 802.11p output ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes: Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
Title :
Stochastic modeling of IEEE 802.11p output process for efficient V2X large-scale interworking
Author(s) :
Salem, Fatma [Auteur]
Laboratoire d'Automatique, de Mécanique et d'Informatique industrielles et Humaines - UMR 8201 [LAMIH]
El Hillali, Yassin [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
COMmunications NUMériques - IEMN [COMNUM - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Niar, Smail [Auteur]
Laboratoire d'Automatique, de Mécanique et d'Informatique industrielles et Humaines - UMR 8201 [LAMIH]
Laboratoire d'Automatique, de Mécanique et d'Informatique industrielles et Humaines - UMR 8201 [LAMIH]
El Hillali, Yassin [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
COMmunications NUMériques - IEMN [COMNUM - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Niar, Smail [Auteur]
Laboratoire d'Automatique, de Mécanique et d'Informatique industrielles et Humaines - UMR 8201 [LAMIH]
Conference title :
Proceedings of 24th IEEE Symposium on Communications and Vehicular Technology, SCVT 2017
City :
Leuven
Country :
Belgique
Start date of the conference :
2017-11-14
HAL domain(s) :
Informatique [cs]
Informatique [cs]/Réseaux et télécommunications [cs.NI]
Informatique [cs]/Intelligence artificielle [cs.AI]
Sciences de l'ingénieur [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Traitement du signal et de l'image [eess.SP]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique
Informatique [cs]/Réseaux et télécommunications [cs.NI]
Informatique [cs]/Intelligence artificielle [cs.AI]
Sciences de l'ingénieur [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Traitement du signal et de l'image [eess.SP]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Source :