Utilisation des sources d'opportunité pour ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Utilisation des sources d'opportunité pour la détection passive d'endommagements dans des structures dédiées aux transports
Author(s) :
Chehami, Lynda [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Transduction, Propagation et Imagerie Acoustique - IEMN [TPIA - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Moulin, Emmanuel [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Transduction, Propagation et Imagerie Acoustique - IEMN [TPIA - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
INSA Institut National des Sciences Appliquées Hauts-de-France [INSA Hauts-De-France]
Benmeddour, Farouk [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Transduction, Propagation et Imagerie Acoustique - IEMN [TPIA - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
INSA Institut National des Sciences Appliquées Hauts-de-France [INSA Hauts-De-France]
Assaad, Jamal [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 [IEMN-DOAE]
Transduction, Propagation et Imagerie Acoustique - IEMN [TPIA - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
Journées Energies Environnement & Développement Durable, ARCUS-E2D2 2018
City :
Rabat
Country :
Maroc
Start date of the conference :
2018-04-09
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Informatique [cs]
Physique [physics]
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Nationale
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL