Kit d'étalonnage TRL pour la caractérisation ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Kit d'étalonnage TRL pour la caractérisation sub-mmWave sous pointes de InP-HEMT
Author(s) :
Younes, R. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Wichmann, Nicolas [Auteur]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lepilliet, sl [Auteur]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ducournau, Guillaume [Auteur]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bollaert, Sylvain [Auteur]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Wichmann, Nicolas [Auteur]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lepilliet, sl [Auteur]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Ducournau, Guillaume [Auteur]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bollaert, Sylvain [Auteur]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
XXIIèmes Journées Nationales Microondes
City :
Limoges
Country :
France
Start date of the conference :
2022-06-07
Book title :
Kit d'étalonnage TRL pour la caractérisation sub-mmWave sous pointes de InP-HEMT
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
French abstract :
Nous proposons le développement de kits d’étalonnage on-wafer de type multiline Thru-ReflectLine pour mesurer des transistors à des fréquences au-delà de 110 GHz. L’objectif final est la mesure jusque 1,1THz de paramètres ...
Show more >Nous proposons le développement de kits d’étalonnage on-wafer de type multiline Thru-ReflectLine pour mesurer des transistors à des fréquences au-delà de 110 GHz. L’objectif final est la mesure jusque 1,1THz de paramètres S de HEMT, dont la fréquence de coupure avoisine 1 THz. Une première conception de kit montre que l’utilisation de configurations adéquates aux bandes de fréquences utilisées dans l’étalonnage, optimisera nos mesures de la partie active de nos composantsShow less >
Show more >Nous proposons le développement de kits d’étalonnage on-wafer de type multiline Thru-ReflectLine pour mesurer des transistors à des fréquences au-delà de 110 GHz. L’objectif final est la mesure jusque 1,1THz de paramètres S de HEMT, dont la fréquence de coupure avoisine 1 THz. Une première conception de kit montre que l’utilisation de configurations adéquates aux bandes de fréquences utilisées dans l’étalonnage, optimisera nos mesures de la partie active de nos composantsShow less >
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Nationale
Popular science :
Non
Source :