Kit d'étalonnage TRL pour la caractérisation ...

Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Kit d'étalonnage TRL pour la caractérisation sub-mmWave sous pointes de InP-HEMT
Auteur(s) :
Younes, R. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Wichmann, Nicolas [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Lepilliet, sl [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Ducournau, Guillaume [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]
Bollaert, Sylvain [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
XXIIèmes Journées Nationales Microondes
Ville :
Limoges
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2022-06-07
Titre de l’ouvrage :
Kit d'étalonnage TRL pour la caractérisation sub-mmWave sous pointes de InP-HEMT
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Résumé :
Nous proposons le développement de kits d’étalonnage on-wafer de type multiline Thru-ReflectLine pour mesurer des transistors à des fréquences au-delà de 110 GHz. L’objectif final est la mesure jusque 1,1THz de paramètres ...
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Langue :
Français
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Nationale
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL