Titre :

[Invited] Challenges to measure RF noise and intermodulation performances of mmW/THz devices

Auteur(s) :

Danneville, François [Auteur]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Ghanem, Haitham [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Gonçalves, Joao Carlos Azevedo [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Lepilliet, sl [Auteur]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Gloria, Daniel [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Ducournau, Guillaume [Auteur]
Photonique THz - IEMN [PHOTONIQUE THZ - IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

IEEE Latin American Electron Devices Conference (LAEDC 2022)

Ville :

Cancun

Pays :

Mexique

Date de début de la manifestation scientifique :

2022-07-04

Mot(s)-clé(s) en anglais :

mmW
THz
measurement
noise
third order intermodulation point

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique

Résumé en anglais : [en]

Applications in millimetre wave range and terahertz frequencies keep on increasing. In this context, drastic challenges are faced at measurement level, in particular to extract noise performance and nonlinear properties ...
Lire la suite >Applications in millimetre wave range and terahertz frequencies keep on increasing. In this context, drastic challenges are faced at measurement level, in particular to extract noise performance and nonlinear properties of devices and circuits used to build the required systems. The aim of this talk is to provide an overview of these challenges, and to describe the solutions that we have developed to respond to them.Lire moins >

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL