Titre :

Deformation of single crystal sample using D-DIA apparatus coupled with synchrotron X-rays: In situ stress and strain measurements at high pressure and temperature

Auteur(s) :

Girard, Jennifer [Auteur]
Chen, Jiu Hua [Auteur]
Raterron, Paul [Auteur]
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207 [UMET]
Holyoke, Caleb [Auteur]

Titre de la revue :

Journal of Physics and Chemistry of Solids

Numéro :

71

Pagination :

1053-1058

Date de publication :

2010

Discipline(s) HAL :

Planète et Univers [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Physique [physics]/Astrophysique [astro-ph]
Planète et Univers [physics]/Sciences de la Terre
Chimie/Matériaux
Physique [physics]/Physique [physics]/Géophysique [physics.geo-ph]

Langue :

Anglais

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Établissement(s) :

Université de Lille
ENSCL
CNRS
INRA

Collections :

• Unité Matériaux et Transformations (UMET) - UMR 8207

Équipe(s) de recherche :

Matériaux Terrestres et Planétaires

Date de dépôt :

2019-05-16T15:14:29Z