Title :

Angular measurement of acoustic reflection coefficient for substrate materials and layered structures by V(z) technique

Author(s) :

Xu, Wei-Jiang [Auteur]
Ourak, Mohamed [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Transduction, Propagation et Imagerie Acoustique - IEMN [TPIA - IEMN]

Journal title :

NDT & E International

Pages :

75-83

Publisher :

Elsevier

Publication date :

1997-04

ISSN :

0963-8695

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL

Submission date :

2023-05-08T20:14:59Z