Elaboration and high resolution TEM ...

Type de document :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1016/j.mee.2013.01.025
URL permanente :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/8224
Titre :
Elaboration and high resolution TEM characterization of SnO2 nanowires
Auteur(s) :
Daltin, Anne-Lise [Auteur]
Addad, Ahmed [Auteur] refId
Chopart, Jean-Paul [Auteur]
Titre de la revue :
Microelectronic Engineering
Numéro :
108
Pagination :
204-208
Date de publication :
2013
Langue :
Anglais
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Établissement(s) :
Université de Lille
ENSCL
CNRS
INRA
Collections :
Date de dépôt :
2019-05-16T15:31:32Z