Atomic force microscopy as a suitable tool ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès sans actes
Permalink :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/85831
Title :
Atomic force microscopy as a suitable tool for probing the polar axis direction in electroactive P(VDF-co-TrFE) films at the nanoscale
Author(s) :
Saj Mohan, M.M. [Auteur]
Da Costa, Antonio [Auteur] refId
Unité de Catalyse et Chimie du Solide (UCCS) - UMR 8181
Tahon, J.-F. [Auteur]
Bouad, V. [Auteur]
Hamieh, A. [Auteur]
Addad, A. [Auteur]
Marin, A. [Auteur]
Cazaux, Frederic [Auteur] refId
Unité Matériaux et Transformations (UMET) - UMR 8207
Ponchel, F. [Auteur]
Lefebvre, J.-M. [Auteur]
Ladmiral, V. [Auteur]
Rémiens, D. [Auteur]
Desfeux, Rachel [Auteur] refId
Unité de Catalyse et Chimie du Solide (UCCS) - UMR 8181
Barrau, Sophie [Auteur] refId
Unité Matériaux et Transformations (UMET) - UMR 8207
Ferri, Anthony [Auteur] refId
Unité de Catalyse et Chimie du Solide (UCCS) - UMR 8181
Conference title :
Matériaux Électroactifs et Applications (MatElec 2022)
City :
Villeneuve d'Ascq
Country :
France
Start date of the conference :
2022-07-01
HAL domain(s) :
Chimie
Language :
Anglais
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Administrative institution(s) :
CNRS
Centrale Lille
ENSCL
INRAE
Univ. Artois
Université de Lille
Collections :
Research team(s) :
Couches minces & nanomatériaux (CMNM)
Ingénierie des Systèmes Polymères
Submission date :
2023-07-04T12:17:58Z