Determination of carriers capture cross-section of Si/SiO2 interface states by means of process/device simulations

Type de document :

Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes

Titre :

Auteur(s) :

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Microélectronique Silicium - IEMN [MICROELEC SI - IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

Proc. of the SISDEP’91

Ville :

Zurich

Pays :

Suisse

Date de début de la manifestation scientifique :

1991-09

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

Source :

Determination of carriers capture cross-section ... BibTeX CSV Excel RIS