Focusing and Imaging of Flexural Lamb Waves ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Focusing and Imaging of Flexural Lamb Waves by Pillared Metasurfaces
Author(s) :
Carpentier, L. [Auteur]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Jin, Y. [Auteur]
Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies [C2N]
Wang, W. [Auteur]
Iglesias, J. [Auteur]
Khelif, A. [Auteur]
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) [FEMTO-ST]
Pennec, Yan [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Bonello, B. [Auteur]
Acoustique pour les nanosciences [INSP-E3]
Djafari-Rouhani, Bahram [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Jin, Y. [Auteur]
Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies [C2N]
Wang, W. [Auteur]
Iglesias, J. [Auteur]
Khelif, A. [Auteur]
Franche-Comté Électronique Mécanique, Thermique et Optique - Sciences et Technologies (UMR 6174) [FEMTO-ST]
Pennec, Yan [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Bonello, B. [Auteur]
Acoustique pour les nanosciences [INSP-E3]
Djafari-Rouhani, Bahram [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Physique - IEMN [PHYSIQUE - IEMN]
Conference title :
PHONONICS 2023: 6th International Conference on Phononic Crystals/Metamaterials/Metasurfaces, Phonon Transport, and Topological Phononics
City :
Manchester (UK)
Country :
Royaume-Uni
Start date of the conference :
2023-06-12
Publication date :
2023
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Acoustique [physics.class-ph]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Source :