Structural and Optical analyses of Sn1-xFexO2 ...

Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Poster
URL permanente :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/9744
Titre :
Structural and Optical analyses of Sn1-xFexO2 nanoparticles
Auteur(s) :
Belhaj-Othman, W [Auteur]
El-Houichet, H [Auteur]
Sieber, B [Auteur]
Gelloz, B [Auteur]
Addad, Ahmed [Auteur] refId
Unité Matériaux et Transformations - UMR 8207 [UMET]
Moreau, Myriam [Auteur]
Laboratoire Avancé de Spectroscopie pour les Intéractions la Réactivité et l'Environnement - UMR 8516 [LASIRE]
Ferid, M [Auteur]
Boukherroub, Rabah [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors (BIAMS) 2012
Ville :
Annaba
Pays :
Algérie
Date de début de la manifestation scientifique :
2012-06
Langue :
Anglais
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Établissement(s) :
Université de Lille
ENSCL
INRA
CNRS
Collections :
Date de dépôt :
2019-05-17T09:36:43Z
2021-05-31T06:29:38Z
Historique des modifications
Numéro de versionLienDate de modification
220.500.12210/9744*2021-05-31T06:28:54Z
120.500.12210/9744.12019-05-17T09:36:43Z

*Version sélectionnée