Structural and Optical analyses of Sn1-xFexO2 ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Poster
Permalink :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/9744
Title :
Structural and Optical analyses of Sn1-xFexO2 nanoparticles
Author(s) :
Belhaj-Othman, W [Auteur]
El-Houichet, H [Auteur]
Sieber, B [Auteur]
Gelloz, B [Auteur]
Addad, Ahmed [Auteur]
Moreau, M [Auteur]
Ferid, M [Auteur]
Boukherroub, R [Auteur]
Conference title :
Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors (BIAMS) 2012
City :
Annaba
Country :
Algérie
Start date of the conference :
2012-06
Language :
Anglais
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Administrative institution(s) :
Université de Lille
ENSCL
INRA
CNRS
Collections :
Submission date :
2019-05-17T09:36:43Z