Structural and Optical analyses of Sn1-xFexO2 ...

Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Poster
URL permanente :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/9744
Titre :
Structural and Optical analyses of Sn1-xFexO2 nanoparticles
Auteur(s) :
Belhaj-Othman, W [Auteur]
El-Houichet, H [Auteur]
Sieber, B [Auteur]
Gelloz, B [Auteur]
Addad, Ahmed [Auteur]
Moreau, M [Auteur]
Ferid, M [Auteur]
Boukherroub, R [Auteur]
Titre de la manifestation scientifique :
Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors (BIAMS) 2012
Ville :
Annaba
Pays :
Algérie
Date de début de la manifestation scientifique :
2012-06
Langue :
Anglais
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Établissement(s) :
Université de Lille
ENSCL
INRA
CNRS
Collections :
Date de dépôt :
2019-05-17T09:36:43Z