Title :

Analysis of a rotational single sheet tester using 3D Finite Element model taking into account hysteresis effect

Author(s) :

Leite, Jean Vianei [Auteur]
Benabou, Abdelkader [Auteur]
Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique de Puissance (L2EP) - ULR 2697
Laboratoire d’Électrotechnique et d’Électronique de Puissance - ULR 2697 [L2EP]
Da Silva, Pedro Armando [Auteur]
Sadowski, Nelson [Auteur]
Henneron, Thomas [Auteur]
Clenet, Stephane [Auteur]
Kuo-Peng, Patrick [Auteur]
Piriou, Francis [Auteur]
Batistela, N.J. [Auteur]

Journal title :

The International Journal for Computation and Mathematics in Electrical and Electronic Engineering

Abbreviated title :

COMPEL

Volume number :

26

Pages :

1037-1048

Publication date :

2007-08

Language :

Anglais

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique de Puissance (L2EP) - ULR 2697

Submission date :

2020-09-11T13:48:04Z