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History of Virtual Work Laws. A History of Mechanics Prospective [Book Review]
Annals of Science, Taylor & Francis, 07-06-2012, 71; 3, 441-442Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
UWB short range radar for road applications
Physical and Chemical News, Best Edition, 01-01-2012, 64, p20-29Compte-rendu et recension critique d'ouvragetexte intégral -
Ionic Polarization Occurrence in BaSrTiO3 Thin Film by THz-Time Domain Spectroscopy
Ferroelectrics, Taylor & Francis: STM, Behavioural Science and Public Health Titles, 14-06-2012, 430; 1, 36-41Compte-rendu et recension critique d'ouvragetexte intégral -
Photoassisted Fowler-Nordheim-like tunneling from passivated GaAs microcantilevers
Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015), American Physical Society, 15-03-2012, 85; 11, 113301-1-4Compte-rendu et recension critique d'ouvragetexte intégral -
Low cost 60 GHz new thin pyralux membrane antennas FED by substrate integrated waveguide
Progress In Electromagnetics Research B, EMW Publishing, 2012, 42, 207-224Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Réalisation de transistors fibreux électroniques et de circuits électroniques textiles
L'Actualité chimique, Société chimique de France (SCF), 2012, 360-361, 65-68Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
Cavity-type hypersonic phononic crystals
New Journal of Physics, Institute of Physics: Open Access Journals, 2012, 14, 113032Compte-rendu et recension critique d'ouvragetexte intégral -
Faceting, composition and crystal phase evolution in III-V antimonide nanowire heterostructures revealed by combining microscopy techniques
Nanotechnology, Institute of Physics, 2012, 23, 095702-1-9Compte-rendu et recension critique d'ouvragetexte intégral -
Size-dependence of the exciton transitions in colloidal CdTe quantum dots
Journal of Physical Chemistry C, American Chemical Society, 2012, 116, 23160-23167Compte-rendu et recension critique d'ouvrage -
The effect of gate length variation on InAlGaN/GaN HFET device characteristics
Semiconductor Science and Technology, IOP Publishing, 2012, 27, 035009-1-4Compte-rendu et recension critique d'ouvragetexte intégral