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Full TextRéférence avec texte intégral (1)AuthorArscott, Steve (1)Eschimese, Damien (1)Melin, Thierry (1)
Vaurette, Francois (1)
TypeCompte-rendu et recension critique d'ouvrage (1)Publication date2020 (1)Project
Fabrication de leviers de microscopie à force atomique pour des applications de spectroscopie Raman à exaltation de pointe (1)
Language (ISO)Anglais (1)Journal
Nanotechnology (1)