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Résultats 1-2 de 2
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Measurement Accuracy and Repeatability in Near-Field Scanning Microwave Microscopy
IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference, I2MTC 2015, Pisa, 11-05-2015, 2015 -
Caractérisation hyperfréquence sous pointes de nano dispositifs: métrologie et instrumentation
Université de Lille, 20-12-2018Thèse